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2017年7月3日

アドバンテスト、ウェーハテスト向けメモリテスタ「T5822」を発売

 アドバンテストは2017年6月27日、 メモリテスタ「T5800シリーズ」の新製品「T5822」を発売した。モバイル機器に広く使用されているDRAM、NANDフラッシュなどの不揮発性メモリのウェーハテストに最適となっている。
 昨今のモバイル機器の普及拡大とともにに、コストに敏感なメモリ・デバイス製造には幅広い品種の量産テストを低コストで行えるソリューションが求められている。「T5822」は、最大1536個の同時試験個数や1.2 Gbpsのテスト速度など、機能とコスト効率を幅広い品種のメモリのウェーハテストに最適化している。また、「T5822」はコンパクトなテスト・ヘッドに対応し、これまでより高い電圧レベル印可を可能にしたレベル・ドライバ、DC試験機能に加え、メモリ・セル救済解析装置(MRA)も備えている。
 また、「T5822」のオペレーティング・システム「FutureSuite」は、さまざまな種類のメモリ・デバイスのテスト・プログラムに対応する。−10〜13 Vの出力電圧レンジは、メモリ・デバイスのピン数を問わずフレキシビリティとコストに優れたテストを可能にする。さらに、「T5822」は他の「T5800シリーズ」と同じモジュラー構造を採用しているため、ユーザーは「T5822」にシームレスに移行できる。投資のリスクを削減し利益を拡大する、メモリ・デバイスに理想的なテスト・ソリューションを提供する。

URL=https://www.advantest.com/news?articleId=1623482







 

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