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2017年6月21日

アドバンテスト、IoTデバイス、ADC/DACなどIC向け新モジュールを発表

 アドバンテストは2017年6月21日、「Wave Scale MX」シリーズに新たに高分解能、高精度のミクスド・シグナル・チャンネル・モジュールを加え、試験できるA/Dコンバータ(ADC)とD/Aコンバータ(DAC)の範囲を拡大したことを発表した。新しい「Wave Scale MX」高分解能版モジュールは、業界最高の同時測定能力とAC/DCテスト性能を兼ね備えている。これにより「V93000」プラットフォームは、ADC、DACの試験に一層求められてきている低ひずみ、高精度、高リニアリティに対応し、コンシューマ・オーディオICやIoTデバイスのCOT(Cost of Test)とTTM(Time to Market)削減を可能にする。
  「Wave Scale MX」高分解能版モジュールは、高密度実装により最大のチャンネル数を実現し、オーディオICの幅広い信号周波数帯と高出力レベルをより強力にサポートする。このモジュールは1枚の中に完全に独立した32個の測定器(AWG:任意波形発生器 16ch, デジタイザ 16ch)を備えており、シングルエンド信号と差動信号両方のAC/DCテストに対応している。さらに独自の温度標準を内蔵することでDCの長期安定性を確保するとともに、シングルエンド信号はチャンネル毎のグラウンドセンスを基準とし、高い信頼性を確保している。またピンごとのパラメトリック測定ユニット(PMU)が高精度のDCテストを実現し、シングルエンド信号では20Vpp、差動信号では40Vppの振幅をカバーできる。最高のスループットと再現性を実現するため、全ての機能は測定器ごとに搭載されたテストプロセサで制御されている。
 また「Wave Scale MX」高分解能版モジュールは、革新的なアーキテクチャによりリソースを共有しないため、32個の測定器が異なる設定で同時並行に試験することが可能となっている。
  同社は、この高分解能版モジュールと販売中の高速版モジュールを一つのモジュールにまとめたハイブリッド版モジュールも販売する。

URL=https://www.advantest.com/web/advantest/news?articleId=1611367






 

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