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2017年4月26日

ADI、コンディション・モニタ向け高雑音特性のMEMS加速度計を開発

米Analog Devices(ADI)社は2017年4月24日、新しい高周波低雑音MEMS加速度計を2品種「ADXL1001」、「ADXL100」を発表した。産業用コンディションモニタ用途に対応したものとなっている。機械の故障や欠陥の影響を早期に発見するため、振動を高解像度で測定することが望まれている。従来の高周波MEMS加速度計では雑音の影響により、十分な信頼性が得られていなかった。今回発表した製品では、PZTテクノロジにより高加速度(High-G)にバンド幅を拡張することで超低雑音密度を達成、信頼性を向上させている。
 新製品はADXL1001が±100gとADXL1002が±50gのフルスケールのレンジを達成している。ノイズ密度(Typ)は、 ADXL1002が25μg/√Hz(感度は40mV/g)、ADXL1001が30μg/√Hz(感度は20mV/g)。3.0V〜5.25Vの単一電源で駆動する。両製品とも5mm×5mm×1.85 mm LFCSPパッケージで提供する。温度範囲は-40℃〜+125℃ 。価格(1000個購入時)は両製品とも29.61米ドル。

URL=http://www.analog.com/en/about-adi/news-room/press-releases/2017/4-24-2017-analog-devices-mems-accelerometers-deliver-compelling-noise-performance.html









 

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