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2017年3月2日

アドバンテスト、計測システム向け新アナログ・モジュールを発表

 アドバンテストは2017年2月28日、計測システム「EVA100」の高分解能・高速アナログ・デバイス向け新モジュール「HF-AWGD(high-frequency arbitrary waveform generator and digitizer:高周波任意波形発生器およびデジタイザ)」を発表した。これにより「EVA100」は、車載デバイスなど需要の伸長著しいアプリケーションも含めた、高精度アナログ/ミクスド・シグナルICの主要なパラメータを計測できる。
 「HF-AWGD」は、デュアル・チャネル高速AWG(任意波形発生器)とデジタイザを搭載し、高速16ビットA/Dコンバータやオペアンプといった高精度デバイスの解析に最適なモジュール。直感的操作が可能なグラフィック・ユーザ・インタフェースによるパターン・ジェネレータ機能も持ち、容易に信号を出力することができる。AWGの高調波歪みは-102dBと非常に低く、高精度の計測が可能となっている。さらに、大容量の波形サンプルが可能なキャプチャ・メモリや、広帯域かつ幅広い入力電圧レンジをカバーした波形デジタイザにより、高速かつ高精度のコンバータやベースバンド・デバイスの試験に対応する。
 「EVA100」は、容易なセットアップやスピーディーなデバッグと検証機能により、これまで多くの製品の早期立ち上げに貢献してきた。今回、「HF-AWGD」を加えたことで、計測カバレッジが大きく広がりました。アナログ/デジタル両方の機能を併せ持ち、センサ、モバイル通信、パワー制御などの用途に今後高い需要が見込まれるスマートデバイスの測定に、「EVA100」は多種多様な先進的計測機能を提供する。また、「EVA100」はデバイスの設計用と生産用に同じテスト・シーケンスを用いており、ユーザーは開発から量産までの測定環境を一本化できる。異なるシステム同士のテストデータの相関づけに時間と労力を費やす必要も無く、デバイスのtime to marketを劇的に短縮する。
 「HF-AWGD」は、すでに複数の顧客に出荷され、イメージ・センサやデータ・コンバータなどの計測に活用されている。

URL=https://www.advantest.com/news?articleId=1394669









 

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